"Nanoscope tidak hanya berfungsi untuk melihat struktur nano, tapi juga dapat mengukur sifat kimia, sifat magnet, serta sifat fisika lainnya yang ada pada nano dengan resolusi yang sangat tajam," kata Dr Ratno Nuryadi, peneliti dari Pusat Teknologi Material BPPT di Kantor Kemristek, Jakarta, Selasa (24/8).
Ia memaparkan, alat pengukur nano tersebut bentuknya seperti mikroscop, tapi sedikit berbeda dengan mikroscop generasi pertama yang sekarang dikenal yang menggunakan lensa dengan optik cahaya atau generasi kedua yang menggunakan elektron.
Menurut dia, jenis mikroscope yang dikembangkan BPPT adalah menggunakan peraba atau jenis mikroscop generasi ketiga. Peraba materi bentuknya lancip seperti jarum berukuran nano meter.
Prinsip kerjanya, katanya, jarum peraba tersebut didekatkan ke sebuah sample materi dan digerakkan, dan kemudian akan menyusuri struktur nano dan menampilkannya di layar komputer.
"Jadi pada prinsipnya mikroskop itu hanya proses scanning saja, kemudian membaca gerakan dari jarum tersebut," katanya.
Ia menambahkan, alat pengukur nano tersebut mulai dikembangkan sejak tahun 2008, dan kemudian sedikit demi sedikit dikembangkan sampai saat ini.
Alat tersebut baru digunakan secara internal untuk mengukur sample, seperti mengerjakan material silikon, dan masih dalam bentuk prototipe yang terus dikembangkan BPPT. (*)
(ANT-190/R009)
Editor: Ruslan Burhani
Copyright © ANTARA 2010
